windows phone基礎(chǔ)開發(fā)與白盒測(cè)試培訓(xùn)
windows?phone8 基礎(chǔ)開發(fā)與白盒測(cè)試培訓(xùn)
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課程目標(biāo):
通過培訓(xùn)希望學(xué)員掌握windows?phone開發(fā)基礎(chǔ),能夠進(jìn)行windows?phone?8平臺(tái)下應(yīng)用程序的白盒測(cè)試和測(cè)試開發(fā)工作。
課程大綱:
主題
內(nèi)容
Windows?phone
系統(tǒng)/框架/開發(fā)
Windows?Phone應(yīng)用程序的生命周期
墓碑化機(jī)制
用戶界面與布局
Wp中的常用控件
1.白盒測(cè)試概覽
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2.靜態(tài)白盒測(cè)試
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3.1動(dòng)態(tài)白盒測(cè)試
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什么是白盒測(cè)試
白盒測(cè)試的范圍
白盒測(cè)試的方法
白盒測(cè)試技術(shù)難題和策略
白盒測(cè)試工具
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什么是靜態(tài)白盒測(cè)試
靜態(tài)白盒測(cè)試的時(shí)機(jī)
wp靜態(tài)白盒測(cè)試工具
邏輯覆蓋測(cè)試
1.?語(yǔ)句覆蓋
2.?判斷覆蓋
3.?條件覆蓋
4.?判斷/條件覆蓋
5.?條件組合覆蓋
3.2?動(dòng)態(tài)白盒測(cè)試
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wp中的單元測(cè)試
路徑覆蓋測(cè)試
路徑分析測(cè)試
1)?控制流圖
2)程序環(huán)路復(fù)雜性
獨(dú)立路經(jīng)測(cè)試
1)?導(dǎo)出程序控制流圖
2)?求出環(huán)形復(fù)雜度
3)?設(shè)計(jì)測(cè)試用例
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單元測(cè)試概述
如何在wp中進(jìn)行單元測(cè)試
Windows?phone?白盒測(cè)試實(shí)戰(zhàn)
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wp自動(dòng)化白盒測(cè)試工具的使用
通過“Windows?Phone?Application?Analysis”從以下方面分析windows?phone應(yīng)用的質(zhì)量問題
1.啟動(dòng)時(shí)間過慢。
2.對(duì)輸入(例如,滾動(dòng)或縮放)的響應(yīng)時(shí)間慢。
3.高電池消耗量。
4.網(wǎng)絡(luò)延遲。
5.網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)成本高。
6.網(wǎng)絡(luò)信號(hào)的質(zhì)量變化時(shí)性能差。
7.內(nèi)存泄露?